Exibir código-fonte para AFM Nanosurf EasyScan2 Flex


=== '''Descrição''' ===
''<small>(Extraída do site oficial do LAMULT)</small>''

A microscopia de força atômica (AFM) permite a análise de propriedades superficiais dos materiais com resolução atômica, sendo uma das técnicas da chamada microscopia por varredura com ponta de prova (SPM). A sonda interage com a superfície da amostra e uma cerâmica piezoelétrica  usada como scanner acompanha o movimento . As diversas configurações possíveis para o equipamento permite a medição de forças mecânicas (topografia) e elétricas (fase).

'''Especificações técnicas:'''

* Tipo de "Scan Head": 110um
* Máximo alcance de varredura: 110um
* Alcance máximo eixo Z: 22um


'''Pontas disponíveis:''' 

* TAP190Al-G
* ''consulte o laboratório...''


'''Status:''' ATIVO!

=== Dados do Equipamento ===
Marca: Nanosurf

Modelo: EasyScan2 Flex

Serial Number: ?

Data da instalação: ?

N° de Patrimônio (Unicamp): ?

=== Manuais ===
Manuais oficiais: ?

Tutorial:  https://drive.google.com/file/d/1bECPYyvnBaA8NOoVmM9pMy6-iIUIB1Di/view ''<small>(vídeo elaborado pelo LAMULT)</small>''

=== Manutenção ===

==== Suporte ====

==== Registro de Atuações ====
[[Categoria:Equipamentos LAMULT]]