AFM Nanosurf EasyScan2 Flex

Descrição

(Extraída do site oficial do LAMULT)

A microscopia de força atômica (AFM) permite a análise de propriedades superficiais dos materiais com resolução atômica, sendo uma das técnicas da chamada microscopia por varredura com ponta de prova (SPM). A sonda interage com a superfície da amostra e uma cerâmica piezoelétrica usada como scanner acompanha o movimento . As diversas configurações possíveis para o equipamento permite a medição de forças mecânicas (topografia) e elétricas (fase).

Especificações técnicas:

Tipo de "Scan Head": 110um
Máximo alcance de varredura: 110um
Alcance máximo eixo Z: 22um

Pontas disponíveis:

TAP190Al-G
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Status: ATIVO!

Dados do Equipamento

Marca: Nanosurf

Modelo: EasyScan2 Flex

Serial Number: ?

Data da instalação: ?

N° de Patrimônio (Unicamp): ?

Manuais

Manuais oficiais: ?

Tutorial: https://drive.google.com/file/d/1bECPYyvnBaA8NOoVmM9pMy6-iIUIB1Di/view (vídeo elaborado pelo LAMULT)

Manutenção

Suporte

Registro de Atuações